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ATX210覆層測厚儀
日期：2025-04-18 06:00
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摘要：ATX210覆層測厚儀概述
ATX210覆層測厚儀是磁性、渦流一體的便攜式覆層測厚儀，它能快速、無損傷、精密地進行涂、鍍層厚度的測量；既可用于實驗室，也可用于工程現場；廣泛地應用在制造業、金屬加工業、化工業、商檢等檢測領域；是材料保護專業必備的儀器。
ATX210覆層測厚儀符合以下標準：
GB/T4956-1985 磁性方法
GB/T4957-1985 渦流方法
JB/T8393-1996 磁性和渦流覆層測厚儀
JG889-95 《磁阻法測厚儀》
JJG818-93 《電渦流式測厚儀》
ATX210覆層測厚儀
ATX210覆層測厚儀功能特點
采用了磁性和渦流兩種測厚方法，可無損地測量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金等)上非磁性覆層厚度(如鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等)，非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導電覆層厚度(如:橡膠、油漆、陽極氧化膜等)
具有兩種測量方式：連續測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）
具有兩種工作方式：直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl)
設有五個統計
ATX210覆層測厚儀概述
ATX210覆層測厚儀是磁性、渦流一體的便攜式覆層測厚儀，它能快速、無損傷、精密地進行涂、鍍層厚度的測量；既可用于實驗室，也可用于工程現場；廣泛地應用在制造業、金屬加工業、化工業、商檢等檢測領域；是材料保護專業必備的儀器。
ATX210覆層測厚儀符合以下標準：
ATX210覆層測厚儀符合以下標準：
- GB/T4956-1985 磁性方法
- GB/T4957-1985 渦流方法
- JB/T8393-1996 磁性和渦流覆層測厚儀
- JG889-95 《磁阻法測厚儀》
- JJG818-93 《電渦流式測厚儀》
ATX210覆層測厚儀功能特點
- 采用了磁性和渦流兩種測厚方法，可無損地測量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金等)上非磁性覆層厚度(如鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等)，非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導電覆層厚度(如:橡膠、油漆、陽極氧化膜等)
- 具有兩種測量方式：連續測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）
- 具有兩種工作方式：直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl)
- 設有五個統計量：平均值、*大值（MAX）、*小值（MIN）、測試次數（NO．）、標準偏差
- 可采用兩種方法對儀器進行校準,并可用基本校準法對測頭的系統誤差進行修正
- 具有存貯功能：可存貯100 個測量值
- 具有刪除功能：對測量中出現的單個可疑數據進行刪除，也可刪除存貯區內的所有數據
- 可設置限界：對限界外的測量值能自動報警；并可用直方圖對一批測量值進行分析
- 具有電源欠壓指示功能
- 操作過程有蜂鳴聲提示
- 具有錯誤提示功能，通過屏顯或蜂鳴聲進行錯誤提示
- 設有兩種關機方式：手動關機方式和自動關機方式
ATX210覆層測厚儀技術參數
- 測頭類型：F | N
- 測量原理：磁感應 | 電渦流
- 測量范圍：0-1500um | 0-1500um 0-40um(銅上鍍鉻)
- 低限分辨力：0.1um
- 探頭連接方式：一體化
- 示值誤差：F | N
1. 一點校準(um)：±[2%H+1]
2. 兩點校準(um)：±[（1%~3%）H+1]
3. 一點校準(um)：±[2%H+1.5]
4. 兩點校準(um)：±[（1%~3%）H+1.5]
2. 兩點校準(um)：±[（1%~3%）H+1]
3. 一點校準(um)：±[2%H+1.5]
4. 兩點校準(um)：±[（1%~3%）H+1.5]
- 測量條件：F | N
2. 基體*小面積的直徑(mm)：ф7
3. *小臨界厚度(mm)：0.5
4. *小曲率半徑(mm)：凸3 | 凹10
5. 基體*小面積的直徑(mm)：ф5
6. *小臨界厚度(mm)：0.3
- 溫濕度：0~40℃ | 20%RH～90%RH
- 統計功能：平均值、*大值（MAX）、*小值（MIN）、測試次數（NO．）、標準偏差
- 工作方式：直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl)
- 測量方式：連續測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）
- 上下限設置：有
- 存儲能力：100個測量值
- 關機方式：手動和自動
- 電 源：二節AAA型（7號）1.5V電池
- 外形尺寸：110×50×23mm
- 重 量：100g
ATX210覆層測厚儀基本配置
- ATX210覆層測厚儀主機
- 鐵基體和鋁基體
- 標準片一套|五片
- 二節AA型（5號）1.5V電池
- 使用說明書
